探針冷熱臺(tái)是一種結(jié)合探針測試與溫度控制的精密實(shí)驗(yàn)設(shè)備，主要用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體測試、微電子器件研究等領(lǐng)域，能夠在寬溫域內(nèi)實(shí)現(xiàn)樣品的電學(xué)性能測試及微觀結(jié)構(gòu)觀察。
 

　　探針冷熱臺(tái)技術(shù)特點(diǎn)：
 

　　模塊化設(shè)計(jì)
 

　　支持定制化配置，如真空系統(tǒng)(極限真空度5×10??Pa)、氣氛控制(多路氣體混合)、循環(huán)水冷卻等，適應(yīng)不同實(shí)驗(yàn)需求。
 

　　體積小巧，占地空間小，適合實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線集成。
 

　　自動(dòng)化與安全性
 

　　采用PID控制器或模糊邏輯算法，實(shí)現(xiàn)溫度精準(zhǔn)閉環(huán)控制。
 

　　配備負(fù)溫除霜、探針防劃傷(彈簧結(jié)構(gòu))、極限溫度保護(hù)等功能，延長設(shè)備壽命。
 

　　多場景適用性
 

　　半導(dǎo)體行業(yè)：芯片、氣敏元器件在不同氣氛下的電學(xué)性能測試。
 

　　材料科學(xué)：高分子、液晶、納米材料的相變分析。
 

　　生物醫(yī)學(xué)：細(xì)胞冷凍干燥、組織熱療研究(需配合生物兼容性探針)。